Amélioration de la table d'analyse d'un spectromètre
Le projet consiste en la conception d'un support d'échantillon pour un appareil d'analyse par diffraction de rayons X, dont les applications sont les suivantes : Réflectométrie Détermination de structure conventionnelle avec faisceau parallèle Distribution préférentielle Ce support d'échantillon se présente sous forme d'une table rotative motorisée, réglable en hauteur et en inclinaison, ainsi que d'une lame réglable en inclinaison et en hauteur pour former une fente en dessus de l'échantillon. Cette lame doit être facilement déposable pour les autres applications.
Etudiant: Pierre Gerold
Année: 2003
Département: TIN
Filière: Microtechniques
Type de formation: Plein temps
Partenaire externe: ThemoARL SA, Ecublens
Enseignant responsable: Willi Reichen
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