Caractérisation de blocs fonctionnels intégrés dans une technologie CMOS
L'objectif de ce travail de diplôme est de caractériser de - 40 à +125°C, pour une tension d'alimentation variant de 2.7 à 3.5 volts, deux blocs fonctionnels implémentés dans un circuit intégré fabriqué dans une technologie CMOS 0.5mm, à deux niveaux de polysilicium et trois niveaux de métal. Les blocs fonctionnels considérés sont une référence de tension de type "bandgap" et une fonction thermomètre.
Etudiant: Christian Pillonel
Année: 2000
Département: TIN
Filière: Génie électrique (anciennement Microélectronique)
Enseignant responsable: François Salchli